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平成20年6月16日発行 第2756号 掲載

米の美味しさ計る/美味技術研究会シンポジウムで発表

美味技術研究会は5月29日、都内の東京ビッグサイトで行われた国際食品工業展において、「美味技術研究会シンポジウム」を開催。このうち、お米の美味しさを計ると題して発表したサタケ食味分析室の三上隆司室長は、自社が展開する米の品質評価技術をもとに、炊飯食味計や品質劣化判定に用いるシンケンサ、さらに硬さ・粘り計の3機能を統合した、美味しさ判定システム「食味鑑定団」を紹介した。

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